紅外線快速水分測定儀/快速水分測定儀/紅外快速水份儀/紅外水份儀/紅外線水份儀 型號：TC-SFY -60A

產(chǎn)品特點：

1、體積小、重量輕
2、檢測速度快
3、全自動模式，確保測試準確
4、操作簡單、顯示各種數(shù)據(jù)

5、用途廣泛
6、具有與計算機、打印機連接功能

產(chǎn)品名稱： 便攜式電導率儀 手持式電導率儀 產(chǎn)品型號：DPB-3520

 便攜式電導率儀 手持式電導率儀型號：DPB-3520 
DPB-320型便攜式電導率儀一款全中文顯示，方便的便攜式儀表，具有全智能，多功能，測量性能高等特點。于各行業(yè)溶液中電導率值的測量。 

介紹: 

1.中文主菜單操作，易于理解，操作快捷方便  
2.儀器結構小巧美觀，便于攜帶  
3.多量程，自動轉換，測量精度高  
4.24位A/D信號采集，高精度測量，準確可靠  
5.貼片工藝及一體化設計，高集成度電路設計穩(wěn)定耐用  
6.電池使用時間長，充滿電可長達8小時測量  
7.循環(huán)數(shù)據(jù)存儲功能，自動清除溢出數(shù)據(jù)，操作簡單，查詢方便，斷電數(shù)據(jù)存儲時間10年以上  
參數(shù):  


顯示：128×64點陣液晶，中文顯示  
測量范圍：  
K＝0.01可選測量范圍( 0.000～3.000)μS/cm和（0.00～30.00) μS/cm  
K＝0.10可選測量范圍（0.00～30.00) μS/cm和(0.0～300.0) μS/cm  
K＝1.00可選測量范圍、(0.0～300.0) μS/cm和(0～3000) μS/cm  
K＝10.0可選測量范圍 (0～3000) μS /cm和（0～30000 ) μS/cm                                  
示值誤差：±1% F.S  
分辨率：0.001μS/ cm  
重復性：不大于1%  
測溫范圍：（0.0-99.9）℃  
溫補范圍：（0.1-60.0）℃  
水樣溫度：（5-60）℃  
供電電源：交流（220±22）V  
外形尺寸：162 mmX 82 mmX 33mm  
重量：0.2kg  
配置:  


1.DPB-3520型電導率儀主機一臺  
2.K=1.0電導率電一支  
3.手提箱  
4.產(chǎn)品說明書一份  
5.裝箱單一份  
6.合格證一份

產(chǎn)品名稱：非接觸厚度電阻率測試儀 產(chǎn)品型號：JXNRT1

非接觸厚度電阻率測試儀型號：JXNRT1 
一、測試原理 
1、電阻率測試探頭原理 
電阻率測試模塊是由一對共軸渦流傳感器，以及后續(xù)的處理電路組成。將半導體硅片置于兩個探頭的間隙中時，在電磁場的作用下，半導體硅片中會產(chǎn)生渦流效應，通過檢測渦流效應的大小，可以換算出該硅片的電阻率和方塊電阻。本方法是一種非接觸無損測量的方法，不損傷材料表面，可以在大多數(shù)場合有效替代四探針法測試電阻率以及方塊電阻。 
2、厚度測試探頭原理 
厚度探頭采用的是一對共軸電容位移傳感器。電容傳感器具有重復性好，測試數(shù)值穩(wěn)定，技術成熟等優(yōu)點，廣泛用于各種材料厚度的測試。 
  
二、范圍 
本設備為非接觸無損測量設備，測試過程中對硅片表面以及內(nèi)部不會造成損傷。特別于代替四探針法用于半導體硅片成品分選檢驗。一臺儀器可以同時對厚度和電阻率兩個指標進行測試分選，減少了測試工序和測試時間，提高了測試效率。 
典型的客戶：科研單位、硅片生產(chǎn)廠商、半導體器件生產(chǎn)廠商、光伏企業(yè)、導電薄膜生產(chǎn)企業(yè)。 
三、儀器構成 
1、測試主機：1 臺 
2、電源線：1 根 
3、串口數(shù)據(jù)線：1 根 
4、電腦端軟件：1 套 
5、塑料定位柱：2 個 

四、儀器外觀尺寸結構及圖片 
1、整機尺寸：340*260*180mm 
2、機箱顏色：電腦白 


3、儀器結構：本儀器采用厚度探頭和電阻率探頭前后并列安裝的方式。 
五、儀器主要指標 
1、電氣規(guī)格 
a. 使用標準三插頭，由 220V 交流電供電，整機功耗小于 15 瓦。 
b. 本儀器測試平臺和外殼均為金屬材料，按照安全規(guī)范，請確保電源地線正確連接。 
2、測試范圍 
測試樣品要求：厚度小于 600um 的半導體硅片以及其他類似材料。(為客戶提供特殊定制，厚度大的測試范圍可以擴展到 800um) 
電阻率范圍： L 檔： 0.2-5 Ω·cm 
H 檔： 5-50 Ω·cm 
注： 電阻率不在上述量程范圍內(nèi)的可以按要求調(diào)整， 調(diào)整的范圍可以在0.001-100Ω*cm。 
厚度范圍： 100-600 um （定制版可以做到 300-800um） 注：普通版本厚度大于 700um 的硅片無法放入測試區(qū)域。

產(chǎn)品名稱：自動缺口制樣機  產(chǎn)品型號： TD-QKZ-20

自動缺口制樣機 型號：TD-QKZ-20 
    TD-QKZ-20 自動缺口制樣機,是用機械加工方法制備加工塑料、有機玻璃等非金屬材料的簡支梁、懸臂梁沖擊試驗用標準缺口樣條。該機符合ISO179、ISO180、GB/T1043、GB/T1843、GB/T8814D的要求，是一種結構合理、操作方便、快速準確的制樣設備。 
主要技術參數(shù)： 
1.  銑缺口刀ju長度:50 mm 
2.  Z大銑切厚度:20mm 
3.  銑刀往返速度:60次/min 
4.  電機功率:60W 
缺口試樣類型:A型、B型、C型 
A型   45°±1° R=0.25±0.025mm 
B型   45°±1° R=1.0±0.025mm 
C1型  缺口厚度為0.8±0.1mm 
C2型  缺口厚度為2.0±0.2mm 
C3型  缺口厚度為1.8±0.2mm